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Spectroscopie de Masse d’Ions Secondaires à Temps de Vol
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Descriptif : Marque : IONTOF Année : 2009 Caractéristiques : * Sources utilisées : Bismuth, C60, Césium, oxygène, neutralisation
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Utilisations :
La Spectroscopie de Masse d’Ions Secondaires à Temps de Vol est une méthode d’analyse élémentaire et moléculaire à très haute sensibilité de traces en extrême surface (< 0,5 nm). Tous les éléments et leurs isotopes sont détectables. L’utilisation de faisceaux d’ions permet d’abraser et d’analyser simultanément les échantillons en profondeur. La diversité des sources ioniques offre un large choix d’études : matériaux composites, minéraux, polymères, matière organique,… et la possibilité d’obtenir des cartographies chimiques avec une résolution de quelques dizaines de nanomètres
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