Interfaces, Confinement, Matériaux et Nanostructures - ICMN

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Mercredi 14 janvier 2015

10h - bibliothèque de l’ICMN

Les équipements et accessoires pour la microscopie électronique in-situ TEM/SEM

Stéphane Aguy, EDEN Instruments

Etude des échantillons :

  • en micro/ nano analyse EDS/ EBSD/ WDS/ MICRO-XRF pour MEB et EDS pour MET
  • en analyse in-situ pour MEB par essais mécaniques de déformation , traction chauffante compatible EBSD
  • en analyse in-situ pour MET ,MEB ou MEB/FIB par essais mécaniques et électriques par nano indentation ou nano indentation chauffante, compatible EBSD

- en analyse in-situ pour MET avec des porte-objets environnementaux chauffants double tilt, électriques , liquides, électrochimiques, gaz/température

Préparation des échantillons :