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Diffraction de Rayons X de surface et reflectivité

Descriptif :

Marque : PHILIPS

Année : 1995























Caractéristiques :

Diffractomètre 4 cercles pour l’analyse structurale des films minces et des surfaces :

* longueur d’onde : 1,54 Å (Cu-K)
* résolution : angulaire - 0.005°
* 4 cercles : Omega max 140°, 2theta max 160°, Psi -5° à 95°, Phi 0° à 360°
* optiques : miroir, monochromateur, texture
* détections : détecteur proportionnel, détecteur linéaire
* software : X’Pert Data Collector, Identify, Texture, Hight Resolution
* Base de données : ICDD (phases cristallines)

Utilisations :

Diffraction :

* Diffraction en incidence rasante pour l’étude des surfaces, des agrégats supportés et des films minces (profondeur de pénétration de 20 Å à quelques microns).
* Analyse des contraintes par la méthode des sinus carrés PSI.
* figures de pôles pour l’analyse de la texture (fonction de distribution d’orientation).

Réflectométrie :

* Mesure de l’épaisseur (de 10 Å à quelques milliers Å) et de la densité des films minces.
* Analyse de la rugosité (de Å à quelques dizaines Å) de la surface et des interfaces

Contact :

Pascal Andreazza

fiche technique de l’appareil

Appareil financé avec le soutien de la région centre